场发射透射电子显微镜 TEM
场发射透射电子显微镜 TEM
仪器编号
2020001219
购置日期
2019-01-01
生产厂家
FEI
型号
FEI Talos F200x
制造国家
美国
分类号
材料表征仪器
放置地点
132
联系人
马老师
规格参数

加速电压:200KV电子枪:肖特基场发射;
TEM点点分辨率:0.25nm;
信息分辨率:0.12nm;
STEM分辨率:0.16nm;
样品倾斜角度X/Y:±30
可同时采集4X幅来自不同角度的电子信号,明场(BF),环形明场(ABF),环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)的图像。

应用领域

2019年1月正式投入使用,具有形貌观察、成分检测、结构分析等多种功能,样品测试量约2.4万个/年,至今为本院200余篇论文提供数据支撑,其中影响因子大于10.0的论文有70余篇。除面向校内院系开放外,还服务了西北工业大学、第四军医大学、204所等科研院所样品测试的需求。

效果展示
场发射透射电子显微镜 TEM
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