扫描电子显微镜 SEM
扫描电子显微镜 SEM
仪器编号
2017003432
购置日期
2017-01-01
生产厂家
日立
型号
SU8010
制造国家
日本
分类号
材料表征仪器
放置地点
115
联系人
高老师
规格参数

分辨率:1.0nm(15kV);
1.4nm(1kV,WD=1.5mm,减速模式);
2.0nm(1kV,WD=1.5mm,普通模式)
放大倍数:30倍-800,000倍;电子枪:冷阴极场发射电子源;
加速电压:0.5-30kV(0.1KV/步,可变,普通模式)
样品台:X:0-50mmY:0-50mm,Z:1.5-15mm
样品尺寸最大直径:100mm(标准)

应用领域

2016年11月投入使用,用于观察固体样品的表面形貌,包括金属类样品、非金属类样品、生物制样、矿石产品以及电子元器件产品等,配备的Horiba能谱仪可以在进行形貌观察的同时进行微区的成分分析。运行至今,已为100余篇高水平论文提供了数据支撑。经过培训且考核合格的师生均可上机测试,年均运行机时可达3000小时以上。

效果展示
扫描电子显微镜 SEM
暂无收费信息