透射电子显微镜是物理、化学、材料、地质矿物、生命科学等领域研究者进行材料形貌、物质结构及微区成分分析的重要工具。
分析测试研究中心现有两台透射电子显微镜，一台为赛默飞生产的200kV场发射透射电子显微镜Talos F200X，一台为日本电子生产的120kV透射电子显微镜JEM-1400Flash。为推进大型仪器的开放共享，提高仪器使用效益，提升研究生的科研素养，透射电镜室以每年两期的频率面向全院学生开放JEM-1400Flash的自主上机资格认证。
1. 培训对象
低压电镜使用频率＞2次/月（或总机时>6小时）课题组的在籍硕博研究生。
2. 培训目的
参与培训人员能够熟练掌握低压电镜的原理、样品准备要求、操作流程以及实验室安全操作规范。
3. 培训流程
1. 提交《培训申请表》。
2. 理论培训课程及笔试考核。
课程内容：透射电镜的成像原理；透射电镜JEM-1400Flash的主要硬件结构；实验室安全操作规程；低压电镜适用的样品类型；测试样品制备；仪器操作界面及注意事项。
笔试考核：集中闭卷考试。
3. 上机操作培训。
上机要求：笔试合格，申请书导师签字确认，已缴纳培训费用。
培训模式：5人为一组，上机练习4次，每次4小时。
培训内容：安全操作规范；样品制备；样品杆装样；插拔样品杆；基础光路合轴；样品形貌拍摄；突发事件应急方案。
4. 考核机制
考核申请：有自主测试需求的课题组指派1-2人，填写制式申请表，书面申请自主上机资格培训。
笔试考核：所有递交申请书的学生均可参加理论课程培训及笔试考核，考核合格方可参加上机操作培训。
上机考核：上机操作培训及自主练习结束后，进行上机实操考核。考核内容包括常规形貌实验全流程操作、仪器原理及硬件结构的掌握程度、和对突发故障的简单处理能力。
资格复核：为确保自主测试水平，每学期初开展上机资格复核。复核通过且测试频率＞1次/月的课题组自主上机资格保留6个月，若＜1次/月，则仅保留3个月；复核不通过者立即取消上机资格。
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